技术编号:6153098
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及密封性能测试技术,尤其涉及一种平面密封性能测试装置。背景技术环形密封圈的轴向平面密封又叫端面密封,与径向密封相对应。影响平面密封的 因素是多方面的。主要有环形密封件性能、螺栓布置等。环形密封件是构成平面密封的重 要元件,适当的压縮率和回弹能力是形成密封的必要条件。而螺栓布置的合理性是影响密 封的另一个重要因素,要达到良好的密封,必须使预紧力均匀地作用于环形密封件。因此, 当材料刚度一定时,增加螺栓个数,对密封是有利的。但是螺栓使用过多不仅造成浪费...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。