技术编号：6153571
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及x射线荧光分析技术，具体公开了一种X射线荧光分析装置。背景技术X射线荧光分析具有一系列优点(1)可以实现非破坏分析。样品经分析后无任何变化，能直接返回工艺；(2)特征X射线荧光的波长不受元素价态的影响。这对动力堆乏燃料后处理工艺中钚和镎的浓度分析具有特殊的意义，因为钚和镎的价态复杂多变；(3)分析浓度范围宽，从微量到常量都可以分析；(4)可以进行多元素同时测定，包括铀、钚、镎等同时测定；(5)适于分析各种物态的样品——固体、液体(包括水相和有机相...
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