技术编号：6154053
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及时间域反射测试，特别涉及一种在集成电路片中实 现断路点定位的方法、装置和系统。 背景技术一种检测和分析电磁波与信号的行程和反射特性的方法。20世纪30年代， 人们就开始研究时间域反射测量技术。在20世纪60年代，此技术开始用于 确定电缆断裂和巻曲。在20世纪60年代后期和70年代早期，此技术第一次 应用到化学工业。直到1980年，此技术才有了新突破，尤其是在地球科学方 面，该技术开始用于确定地下体积含水量。今天，TDR技术已经用来测量长 度和确定...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。