技术编号：6155728
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种芯片检测系统及其检测方法，特别涉及一种用于承载盘 内的芯片的检测系统及其检测方法。背景技术当玻璃上芯片(Chip on Glass; COG)技术越来越普遍之际，使COG芯片 的检验需求也快速地在成长。除了在晶圆阶段的检验外，为增加生产合格率 以及降低修复或重工的机会，放置在承载盘上的芯片在被安装到显示面板前 之检验也成为必要。为了满足这些检验需求，开发出少数用于检验承载盘上 的芯片的检验系统。通常而言，承载盘的大小分别有两吋、三吋和四吋。为...
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