技术编号:6156986
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光波的相位测量,具体是测量光波通过分束器件后其透射光和反射光的两个正交分量包括垂直分量(S分量)和平行分量(/7分量)的相位关系。 背景技术在许多的光学系统中,常常需要用分束器将一束光分成两束光,目前常用的分 束器有分光镜,分光平片,分光棱镜等,是广泛应用的光学元件。对于这种分束器 件,几乎所有的器件都只测量其分光比,即分成的两束光的光强能量比,并不测量 光束通过分光器件后其相位的变化关系,但在某些应用中,如空间相干探测,激光 雷达等,不仅需要知...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。