技术编号:6158260
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光电测量技术,特别是一种涉及光学系统星点实时测量装置。背景技术通过考察一个点光源经过光学系统后在像面前后不同截面上所成衍射像的光强分布,即星点像,可以定性的评定光学系统的成像质量。这种衍射图案的变形以及在各衍射环之间光能量的分布与理想情况下的差异能够非常灵敏地反映出光学系统或者光学零件的缺陷。以往传统的星点测量方法都是借助于显微镜等目视工具,其测量装置主要由一个包括光源在内的光具座、被测光学系统镜头和显微镜组成,测量人员通过显微镜的目镜直接进...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。