技术编号:6158362
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,特别涉及一种透 射光谱法测试涂层的红外发射率,评价涂层的红外性能,进而反映涂层红外伪装性能的方 法,属于测试。背景技术根据不同的测试原理,通常将发射率测量方法分为量热法、反射率法、辐射能量法 和多波长测量法等;一些测试装置结构复杂,且严格要求标准样品与被测样品温度一致,需 要加热标准样品,测试条件苛刻,不能消除因被测样品对周围辐射的反射带来的误差,有些 不可以测量发射率低的样品,也不可以测量不同温度下的发射率,通过查新未见国内外与 本方法相...
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