技术编号：6158365
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种反馈式线束低温弯折实验方法，同时提供了适用于该方法的实验装置，属于电子元器件检测。背景技术线束在低温下弯折的情况在实际生活中比较常见，尤其在北方地区冬季的气候寒冷干燥等特点使得低温环境下弯折线束对线束表面绝缘层和线束内芯损坏速度加剧，使得线束使用寿命大大降低，使用该类线束的产品可靠性也随之下降。 线束低温弯折实验装置是实验室内检测线束在低温环境下使用寿命的必备设备，采用模拟人手弯折线束的方式在低温环境试验箱中进行模拟试验。目前，多数实验室现...
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