技术编号：6158567
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种x射线检测装置，具体说涉及一种测量晶体晶向偏差或晶棒要加工晶面的晶向位置的x射线定向仪。背景技术各种人工晶体需要在一定的晶向角加工成薄片，众所周知，其硬度高，造成加工费时费力，相对说原材料价格也高。目前，基本都采用定向仪来测量晶体晶向偏差或待加工晶棒要加工晶面的晶向位置，如果确定其位置就做标记，送相应机床上试加工。试加工后的第一刀晶片需做相对位置标记，返回定向仪检测，如果超差，则计算其偏差角，再计算机床上的相对调整方向。 一般晶棒是用胶粘在一...
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