技术编号：6158651
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。示例实施例涉及芯片测试领域，具体地讲，涉及一种用于芯片扫描测试(scan test)的扫描寄存器、一种包括所述扫描寄存器的扫描链、一种包括所述扫描链的可测试芯 片以及一种测试所述可测试芯片的方法。背景技术随着半导体技术的发展，芯片的集成度得到极大地提高，已经开发出具有亚微米 量级的元件的芯片。通常，在半导体芯片的制造过程中，为了提高芯片的可测试性，在晶片 上形成多个功能性模块的同时，形成用于测试功能性模块是否正常运行的扫描测试的扫描 测试电路(扫描链)。图...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。