技术编号：6161181
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种用于测量天线阻抗的方法及其装置。所述方法包括下列步骤。首先，由耦接至天线的信号源产生射频信号，再施加射频信号至方向性耦合器。由第一混波器将第一信号与信号进行混波，其中第一信号来自方向性耦合器且第一信号对应于来自天线的反射功率。由第二混波器将第二信号与信号进行混波，其中第二信号与第一信号间具有频率偏移。由第一低通滤波器输出天线的反射系数的实部，其中第一低通滤波器耦接至第一混波器的输出端。由第二低通滤波器输出天线的反射系数的虚部，其中第二低通滤波器耦接至第...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。