半导体装置及其检测方法技术资料下载

技术编号:6161234

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本发明公开了一种。半导体装置包括电阻端、模仿拉升驱动器、比较器以及检测状态器。电阻端用来连接外部电阻。模仿拉升驱动器提供20级至2N+1-1级的驱动动作,其中N为自然数。比较器反应于测试电压与参考电压以输出比较信号。测试电压产生于电阻端与模仿拉升驱动器的耦接之处。检测状态器控制模仿拉升驱动器的驱动动作,并且根据比较信号来产生及输出检测信号。检测信号用来表示电阻端的电性连接状态为连接工作电压或浮置的状态、连接外部电阻的状态或是连接接地电压的状态。本发明可判别...
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