技术编号:6161244
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种X-射线层析设备模拟装置,X-射线源、被测物体、探测装置,至少还包括调节系统,所述调节系统用以支撑并调节所述X-射线源、被测物体和探测装置中任意一个或任意组合的位置、方向或角度。所述模拟装置能够模拟X-射线层析设备各种可能的状态,具有相当的灵活性和通用性。专利说明一种X-射线层析设备模拟装置[0001]本发 明涉及计算机X-射线层析,尤其涉及X-射线层析设备模拟装置。背景技术[0002]与普通的X-射线摄影只能提供三维物体的空间信息重叠的二...
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