技术编号：6161430
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，该算法分计算视电导率、计算视深度和估算成像深度三个步骤。首先提出了一个关于均匀半空间模型电导率与响应数据的变换之间均呈一一映射的函数公式，依此建立查询瞬时视电导率值的数据函数表，克服了直接由感生电动势查询视电导率出现的非唯一性问题，也没有出现视电导率无解的问题，获得可靠的视电阻率值。其次将均匀半空间中感应电场最大幅值的1.28倍作为视深度，并通过一个预先建立的数据函数表快速查询得到，提出一个成像深度的近似计算公式，用2个相邻延时期间的视深度变...
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