技术编号:6162388
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明揭示了一种负偏压温度不稳定性检测电路,该电路包括环形回荡器电路,每一测试电路的第一节点通过一分压元件与其前一测试电路的第二节点相连,每一测试电路包括互补的待测PMOS管和NMOS管,所述待测PMOS管的源极接第一电压端、栅极接所述第一节点、漏极接所述第二节点,所述NMOS管的源极接低电平、栅极接第一节点、漏极接所述第二节点,所述每一测试电路的第二节点接第二电压端,所述每一测试电路的第一节点接第三电压端。本发明还揭示了一种检测方法,包括通过控制所述第二...
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