技术编号：6165020
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种方法，用于定位金属或含金属的对象和材料，即使在受金属的影响的情况下，至少两个发射线圈中的电流相对于彼此被调节，由此使得将由至少一个接收线圈接收的接收线圈输出信号或从接收线圈输出信号生成的解调相位的平均值被持续彼此调节到“零”。所需的控制变量的幅度通过解调而被检测为值，优选地，至少在0°并且在偏移了90°的解调处理中，并且被均衡，从而改善该方法，诸如即使在检测区中存在其他金属对象，也允许待检测对象的可靠检测。专利说明用于定位金属对象的金属探测器...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。