技术编号：6165223
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件，其中该系统包括包括色散元件的光具组；以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光，或在激发之后作为荧光从样品发射的光。专利说明可缩放光谱检测和测量[0001]相关申请案[0002]本申请要求在2011年3月31日提交的美国临时专利申请序列号N0.61/4...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。