技术编号:6165236
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种包括维度测量装置和目标的维度测量系统,包括信号发生器,被配置为产生RF调制频率和采样频率,RF调制频率与采样频率之间的频率差小于RF频率除以2;信号发生器还被配置为向模数变换器(ADC)的第一信道和第二信道发送采样频率,并发送RF频率以调制产生第一光线的第一光源;光学系统,被配置为发送一部分第一光线到参考光学检测器,发送另一部分第一光线离开维度测量装置到远程回射器目标,远程回射器目标将第二光线返回光学系统,光学系统发送第二光线到测量光学检测器,参考和测...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。