技术编号：6165242
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种利用坐标测量装置和目标扫描仪来测量对象的表面上的表面集的方法，包括提供具有主体、并入图案的第一回射器、投射器、摄像装置和处理器的扫描仪；提供装置；选择光的源图案；将光的源图案投射到对象上以产生光的对象图案；将光的对象图案成像到光敏阵列上以获得光的图像图案；获得光的图像图案的像素数字值；将第一光束从装置发送至第一回射器；从第一回射器接收第二光束；至少部分基于第二光束来测量方位集和平移集；确定与多个共线图案元素相对应的表面集；以及保存表面集。专利说明与远程...
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