技术编号:6165275
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种采样系统。该采样系统包括外壳。霍耳效应传感器安装到外壳。配置成接触样本的探针插入外壳中。探针包括长形部分和插入探针的长形部分上的复位弹性件。复位弹性件提供足够的恢复力以将探针返回到松弛位置。霍耳效应传感器配置成感测由处于延伸位置的探针的复位弹性件的接近生成的场强度。专利说明[0001]相关申请的交叉引用[0002]本申请要求2011年3月3日提交的美国临时申请第61/449,025号和2011年5月26日提交的第61/490,451号的优先权...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。