技术编号：6165286
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。提供一种用于光子计数型放射线检测器的校准装置。在该装置中，放射线（X射线）的照射条件被设定为，使该放射线的粒子入射至所述多个检测模块时入射粒子彼此重叠的概率在规定值以下（S33、S34）。在该照射条件的设定下，使所述放射线的检测灵敏度在多个检测模块相互之间一致（S35～S39、S41）。使用该一致结果，进一步使放射线的检测灵敏度在包含多个检测模块、鉴别电路以及数据运算电路的电路群所形成的所述像素各自的通道上、以及该各通道的每个鉴别电路上一致（S40、S41...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。