技术编号：6165794
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于评估利用样本的测定的方法和传感器设备（100）。在测定期间，在感测表面（112）处进行光学测量，并且生成所述感测表面（112）的至少一幅“均匀性图像”。从这幅图像，为至少一个感兴趣区域确定“均匀性指标”，之后根据所述指标评估所述光学测量。所述均匀性指标例如可以是二元值，其指示是否检测到不均匀性。如果检测到不均匀性，可以拒绝所有光学测量，可以仅拒绝针对所涉及的感兴趣区域的测量，或可以拒绝针对所涉及的感兴趣区域（ROI）的选定子区域的测量。专...
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