技术编号：6166147
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度-有效原子序数趋势。专利说明用双能X射线计算机断面显像技术估算岩样的有效原子序数和体积密度的方法[0001]本专利申请根据35U.S.C§ 119(e)的规定要求于2011年6月26日提交的在先美国临时专利申请61/511，600的...
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