技术编号:6166198
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种分析包括次微米粒子的样本的方法,该方法包括通过纳米粒子跟踪分析在该样本中确定关于粒子大小及粒子数量的第一信息;通过动态光散射在该样本中确定关于粒子的平均粒子大小的第二信息;从该第一信息中确定代表所检测粒子对于可通过动态光散射获得的结果的理论影响的第三信息;并且使用该第三信息调整该第二信息以产生代表关于平均粒子大小的所调整信息的第四信息。专利说明粒子的光学检测及分析[0001]本发明涉及粒子的光学检测及分析,具体涉及包括纳米粒子的次微米粒子,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。