技术编号:6167511
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中,对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着,在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后,由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面,由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定,并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场,并对磁性体试样(5)施...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。