技术编号：6168761
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计。收容座包括本体和盖体，密封圈放置于本体的内表面，盖体安装于本体上并遮盖密封圈。温度探头安装在盖体的内表面，温度计用于量测收容座内部的温度。其中，测试时，将收容座放入高温箱，温度计放在高温箱外，温度探头将探测到的收容座内部的温度传给温度计，使收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。本发明提供的密封圈老化测试装置，通过将密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容...
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