技术编号:6168833
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于偏振光学检测,涉及。本发明根据旋转波片法和相位调制法的基本原理,将待测FeLC置于椭偏场中,由偏振光学传输理论获得出射光强与FeLC快慢轴参考方位之间的函数关系,通过测量FeLC调制后的两个出射光强是否相等判断其快慢轴的参考方位。该测量方法不依赖于FelC的相位延迟和调制角以及椭偏场中其他波片的相位延迟,测量方法简单易行且精度高,可以广泛应用于任意相位延迟的铁电液晶波片的快慢轴判断。专利说明-种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法 ...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。