技术编号:6169234
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于X射线荧光光谱制样,尤其涉及一种X射线荧光光谱用高压制样技术,其特征在于包括如下步骤称取6-10g试样,放入模具内,拨平;用低压聚乙烯镶边垫底,然后置于高压压力机上;采用程序控制法进行升压,以1-25KN/s的速度升压,将压力从0升至1000-3000KN;保压2s-60s,将试样压制成所需样片;在压制完成的样片非测量面贴上标签或用记号笔编写样号,放入干燥器内保存。本发明的有益效果为采用高压制样技术不仅能使难压制成型的样品如矿石、石英岩、生物样品...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。