技术编号:6170133
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种高效异质结HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法,测试设备包括导线、探针、样品台、暗盒、静电计、光源和屏蔽罩。测试方法是在样品表面先蒸发两条共面型铝电极,两条电极之间的材料即为被测样品,将样品放入密封的样品台上,连接一个可编程的静电计和光源,通过测试得到的电流来计算出薄膜的电导率。本发明提供的测试设备和测试方法简单并且成本低,能准确的反应出材料的光电性能。专利说明HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法 [0001]本发明...
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