技术编号:6172039
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法,步骤为1)为固体继电器施加激励信号,A/D采样电路采集动合触点压降或动断触点压降、动合断故障压降或动合粘故障压降;2)在激励信号的上升沿FPGA开启定时器,在负载电流通过固体继电器时,输出触发信号,测到触发信号时停止定时器;3)在脉冲信号的下降沿FPGA开启定时器,电平触发电路输出触发信号,FPGA检测到触发信号时停止定时器;4)采集到的数据存储至外部存储电路,显示器显示结果,检测装置包括FPGA、激励输出电路、负...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。