技术编号:6172594
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种引张线式双向位移测量系统。本发明的目的是提供一种结构简单、制作方便且成本较低的引张线式双向位移测量系统。本发明的技术方案是一种引张线式双向位移测量系统,用于构筑物表面沉降和水平位移的实时测量,其特征在于该系统包括安装于测试区内的引张线和若干个双向位移测量装置、以及用光缆依次连接的光纤光栅解调仪、数据库及计算机,所述双向位移测量装置安装于测试区内测点表面,测点中心应与引张线在同一高度,其中双向位移测量装置包括一个壳体和两个安装于壳体内的位移测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。