技术编号：6173346
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种MOS芯片γ射线辐射响应的实时在线测试系统，其特征在于所述系统包括辐射响应探针台（1）、脉冲I-V测试系统、脉冲C-V测试系统和On-The-Fly测试系统，所述辐射响应探针台（1）包括内置放射源（10）的铅容器、待测芯片（12）和观测待测芯片变化的显微镜（13），所述铅容器上端开口，待测芯片（12）放置在铅容器开口处，所述待测芯片（12）上端连接探针（14）；所述探针（14）分别与脉冲I-V测试系统、脉冲C-V测试系统和On-The-Fl...
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