技术编号:6173933
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量仪器的辅助装置,具体是一种外径千分尺校准、内径百分表辅助校准装置。该辅助校准装置包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架;各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部;设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置,使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。该辅助校准装置可辅助外径千分尺校准零位,以及内径百分表的校准。专利说明辅助校准装置[0001]本发明涉及一种测量仪器的辅助装置,具体是...
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