技术编号：6175482
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种基于CPCI计算机微电阻高精度测试装置，包括为待测电阻提供基准激励的恒流源，用于处理从待测电阻而来的压降信号的信号调理卡，用于采集信号的CPCI采集卡，人机信息交互平台，CPCI计算机；所述恒流源与所述信号调理卡连接；所述信号调理卡与所述CPCI采集卡连接；所述CPCI采集卡与所述人机信息交互平台连接；所述人机信息交互平台与所述CPCI计算机连接。本发明测量精度高，测量精度可达±0.1mΩ；自动化程度高，可实现自动测量、数据自动判定、自动生...
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