技术编号：6175534
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请公开了一种太赫兹波频谱检测器，以高电子迁移率晶体管为基本结构，高电子迁移率晶体管的沟道处设有天线，以产生太赫兹电场，天线与高电子迁移率晶体管集成设置，且与高电子迁移率晶体管的源极和漏极完全独立，天线包括第一天线和第二天线，第一天线连接于第一栅极，以调节二维电子气浓度；第二天线连接于第二栅极和第三栅极，以形成二维等离子体波谐振腔，第二栅极和第三栅极分别位于所述第一栅极的两侧。在太赫兹波辐照下，能在检测器两端形成开路电压或者短路电流信号，通过扫描栅压得到...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。