技术编号：6175833
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。一种微粒分析设备，包括光检测单元，被配置为检测从作为分析对象的微粒产生的前向散射光。该光检测单元包括具有去除包含在进入光检测单元的光中的低频噪声的高通滤波器的电路，并根据前向散射光的预定频率切换至高通滤波器。专利说明[0001]本公开涉及。具体地，涉及能够提高从微粒产生的前向散射光的检测精度的技术。背景技术[0002]在现有技术中，已经使用了一种微粒分析设备，该设备向在微芯片中形成的流动池或通路中流动的微粒辐射光且检测从该微粒产生的散射光和从该...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。