技术编号:6176467
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。透射电镜用原位双轴倾转纳米压痕仪属于纳米材料原位测试领域。热双金属片一端固定在金属环的上面,另一端为自由端;在自由端且热膨胀系数低的一侧固定一个悬臂梁针尖,悬臂梁针尖上的针尖背对着热双金属片放置,样品固定在样品支撑台的一端上,样品支撑台的另一端固定在金属环上且要让样品正对悬臂梁针尖放置,且样品与针尖缝隙在2-50微米之间;热双金属片和悬臂梁针尖、样品和样品支撑台分别用导电材料固定在一起,热双金属片、样品支撑台分别与金属环绝缘固定,在热双金属片、样品支撑台上...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。