技术编号：6178199
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种检测聚烯烃材料中的杂质几何特征的方法。该方法包括如下步骤S1、对聚烯烃材料的样品切片进行显微拍摄，得到该样品切片的原始显微图像；S2、利用带标记的分水岭分割方法对步骤S1所得到的原始显微图像进行分割，得到可能的杂质颗粒区域；S3、根据杂质的几何特征对步骤S2得到的可能的杂质颗粒区域确定最终的杂质颗粒区域；S4、对步骤S3确定的杂质颗粒区域进行标记，统计各个杂质区域的几何特征参数。本发明能有效地识别杂质颗粒的存在与否并能够准确地计算出存在杂质...
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