技术编号：6181001
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。，属于材料，涉及通过石墨烯偏振依赖光学性质来测量石墨烯的层数。首先将石墨烯转移到透明基底上；然后通过折射率匹配液将石英片贴附于棱镜表面；将光束聚焦照射到覆盖有石墨烯的位置，出射光分成s和p偏振分别照射到平衡探测器的两个探头；控制位移平台与平衡探测器对石墨烯样品进行扫描，得到光斑位置与平衡探测器的电压信号；最后对采集结果进行信号分析处理，获得石墨烯层数信息。采用本发明的方法，能够灵活、方便得对透明基底上的石墨烯层数进行测量。专利说明[0001]本发明涉及一种...
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