技术编号:6182575
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种光谱响应度校准方法及其装置,通过采用连续可调的单波长辐射源、可输出一个以上离散波长的激光装置以及混光器相结合,不仅可实现光谱辐照度和光谱辐亮度的测量,而且可利用离散光谱响应度校准光谱响应度曲线提高测量准确度,具有结构简单、功能齐全、性价比高、操作方便、便于推广和使用等特点。专利说明一种光谱响应度校准方法及其装置[0001]本发明属于光辐射测量领域,具体涉及一种光谱响应度校准方法以及装置。背景技术[0002]光谱响应度是是光辐射探测器的基本性...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。