技术编号:6183461
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种,该方法充分利用光路特性,不需拆分改变待测光发射单元的原有构造,可用于测量光束平行度检测。该装置包括光学成像系统、光发射单元、基座和直线平移系统,光学成像系统包括相机、分光镜、白屏和计算机单元;直线平移系统设置在基座上,直线平移系统包括滑台、丝杠、滑块、固定座、步进电机及其驱动单元;滑台安装在基座上,滑块设置在滑台上,滑块套装在丝杠上,固定座安装在滑块上,步进电机与丝杠连接,步进电机经驱动单元与计算机单元连接;分光镜和光发射单元均安装在固定...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。