技术编号：6184973
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置，涉及滤光片参数测试，解决带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，包括光源；暗箱，位于所述光源前方，侧面设置有入光口；孔径光阑，位于所述入光口和所述光源之间，用来控制进入所述入光口的光能量；滤光片盒与衰减片盒，位于所述暗箱内部，分别用来盛放滤光片与衰减片，其中所述衰减片盒中按照多片级联V形布局的衰减片槽可使每排所述衰减片相互垂直；光电倍增管，位于所述暗箱内部并与所述入光口同轴放置，所述光电倍增管与探测装置共同组成的光电...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。