技术编号:6185068
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种雷达料位计和测试雷达料位计的方法以及系统,该雷达料位计包括设置在罐中的已知基准反射器料位处的基准反射器。该雷达料位计在填充料位测量状态与验证测试状态之间可控。在验证测试状态下,雷达料位计被配置成基于由电磁发射信号在基准反射器处的反射而产生的基准反射器回波来确定第一验证料位;基于由电磁发射信号在产品的表面处的反射而产生的表面回波来确定第二验证料位;提供第一验证料位和第二验证料位以使得能够至少基于第一验证料位、已知基准反射器料位以及第二验证料位来...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。