技术编号：6185421
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光电子学与材料学应用，具体涉及，包括以下步骤步骤一，太赫兹波垂直入射到放置于空气中厚度为l的平板样品中，根据Fabry-Perot腔模型获得样品信号和参考信号太赫兹频谱的理论比值A(ω)；步骤二，利用模拟退火优化算法获得样品信号和参考信号太赫兹频谱理论比值A(ω)和实验比值Ameas(ω)之间的全局最小值，获得最小值处对应的实折射率n(ω))和消光系数κ(ω)。该方法采用精确公式结合模拟退火优化算法提取材料光学常数，可以取消弱吸收近似和材料边界约...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。