技术编号：6185509
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了，对于具有织构的钢试样采用Rietveld方法，并利用MAUD精修软件对XRD图谱进行结构精修，目的在于在测量钢中奥氏体含量时，可以提高试验结果的准确性。Rietveld精修方法具有以下几个优点可以解决一些传统方法无法解决的问题，可以同时修正多个相，且XRD图谱中存在第三相（如碳化物）时，仍然可以得到奥氏体的含量，Rietveld精修方法做的是结构精修，在做定量分析时，不需要了解定量计算的公式。专利说明[0001]本发明属于X射线衍射试验领域，...
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