技术编号：6187203
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光谱标样的制作方法，尤其涉及。背景技术现在市场常见的仪器分析用的校正样品绝大多数都是国标物质，多采用传统的连铸中包浇铸法制作。该方法操作麻烦，冶炼过程时间长，每次只能制取一种含量的标样，不利于梯度标样的制备，故现有的光谱标样制作方法并不能满足生产及研发的需要。此外，铁基非晶合金因成分含量、内部组织、结构、热处理加工的差异不同于普通的通用样品，而且难以激发的Si元素含量较高，导致用仪器分析测其内部组分所得结果差异较大；同时传统的样模浇注取样法取样，...
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