技术编号:6188021
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的双温度开关寿命试验机,该机结构简单、安全可靠,它包括控制系统、支架(12)、上下往复机构(13),位于上下往复机构(13)的下方设有保温箱,该保温箱包括烘箱(1)、箱体(3)、箱盖(4),箱盖(4)上设有至少一个通孔(5),每个通孔(5)对应一个上下往复机构(13)的测试杆(14)并位于该测试杆(14)下方,所述通孔(5)用于安装被测试开关(6)以使被测试开关(6)的面板的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。