双温度开关寿命试验的制造方法技术资料下载

技术编号:6188021

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本发明公开了一种能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的双温度开关寿命试验机,该机结构简单、安全可靠,它包括控制系统、支架(12)、上下往复机构(13),位于上下往复机构(13)的下方设有保温箱,该保温箱包括烘箱(1)、箱体(3)、箱盖(4),箱盖(4)上设有至少一个通孔(5),每个通孔(5)对应一个上下往复机构(13)的测试杆(14)并位于该测试杆(14)下方,所述通孔(5)用于安装被测试开关(6)以使被测试开关(6)的面板的...
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