技术编号:6188203
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供,包括主控计算机、矢量网络分析仪、扫描架、激光测距仪、收发天线、收发天线支架、双轴转台、被测目标和目标支架,运用RCS法测量材料反射率时,为了达到更高的精度和准确度,要求样板法向平行于收发天线口面法向。采用上述方案,可实现更高的测量准确度,并且实现样板校正自动化,节省校正时间,在反射率RCS测试领域具有很好的推广和使用价值。专利说明[0001]本发明属于反射率测试,尤其涉及的是。背景技术[0002]RAM反射率是定量表征材料对雷达照射波吸波性能强...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。