技术编号:6188309
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及射线成像,尤其涉及一种新型双能量X射线成像探测器。背景技术目前,双能量X射线成像系统能够区别X射线所透射材料的密度差异,广泛应用于无损检测中需要对内部材料进行区分的领域,如骨密度测量、安全检测、集装箱检测等。双能量X射线成像系统的工作原理是基于同一物质对不同能量X射线的质量吸收系数不同,以及不同物质对相同能量的X射线的质量吸收系数也不相同的物理规律。在成像过程中,使X射线源产生能量分布一高一低的两组射线,双能量X射线透过被测物质后其射线强度和能谱...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。