技术编号:6188531
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及非接触式测量领域,尤其是涉及。本发明针对现有技术存在的问题,提供一种可。具体通过探测光发射光路、信号接收光路以及信号处理计算机获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变;所述探测光发射光路提供宽谱带探测光,所述信号接收光路收集从金刚石压砧前台面返回的信号光和从其后台面返回的参考光,两束光在信号接收光路的光纤光谱仪中发生频谱干涉;通过计算机处理光纤光谱仪输出的频谱干涉信号,获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变。专利说明[0001]本发明涉及非接触...
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